Tấm wafer mặt trời silicon đơn tinh thể loại P M6 có chiều dài 166mm và đường kính 223mm lớn hơn 12,21% so với wafer M2. điều đó có nghĩa là pin mặt trời làm bằng chất nền M6 sẽ có sản lượng điện cao hơn 12,21% so với pin làm bằng chất nền M2.
1 Tính chất vật liệu
Bất động sản | Sự chỉ rõ | Phương pháp kiểm tra |
Phương pháp tăng trưởng | CZ | |
Kết tinh | Đơn tinh thể | Kỹ thuật khâu ưu tiên（ASTM F47-88） |
Loại dẫn điện | Loại P | Napson EC-80TPN P/N |
Tạp chất | Boron, Gali | - |
Nồng độ oxy [Oi] | ≦8E+17 at / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Nồng độ cacbon [Cs] | ≦5E+16 at / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Mật độ hố rãnh (mật độ trật khớp) | ≦500 cm-3 | Kỹ thuật khâu ưu tiên（ASTM F47-88） |
Định hướng bề mặt | & lt; 100> ± 3 ° | Phương pháp nhiễu xạ tia X (ASTM F26-1987) |
Định hướng của các cạnh hình vuông giả | & lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 ° | Phương pháp nhiễu xạ tia X (ASTM F26-1987) |
2 Đặc tính điện
Bất động sản | Sự chỉ rõ | Phương pháp kiểm tra |
Điện trở suất | 0,5-1,5 Ωcm | Hệ thống kiểm tra Wafer |
MCLT (thời gian tồn tại của sóng mang thiểu số) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (với mức tiêm: 1E15 cm-3) |
3Hình học
Bất động sản | Sự chỉ rõ | Phương pháp kiểm tra |
Hình học | Hình vuông đầy đủ | |
Chiều dài bên Wafer | 166 ± 0,25 mm | hệ thống kiểm tra wafer |
Đường kính Wafer | φ223 ± 0,25 mm | hệ thống kiểm tra wafer |
Góc giữa các mặt liền kề | 90° ± 0.2° | hệ thống kiểm tra wafer |
Độ dày | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | hệ thống kiểm tra wafer |
TTV (Tổng độ dày thay đổi) | ≤27 µm | hệ thống kiểm tra wafer |
4 Tính chất bề mặt
Bất động sản | Sự chỉ rõ | Phương pháp kiểm tra |
Phương pháp cắt | DW | -- |
Chất lượng bề mặt | như được cắt và làm sạch, không có ô nhiễm nhìn thấy được, (không được phép nhìn thấy dầu hoặc mỡ, dấu tay, vết xà phòng, vết vữa, vết epoxy / keo) | hệ thống kiểm tra wafer |
Các dấu / bước cưa | ≤ 15µm | hệ thống kiểm tra wafer |
Cây cung | ≤ 40 µm | hệ thống kiểm tra wafer |
Làm cong | ≤ 40 µm | hệ thống kiểm tra wafer |
Chip | độ sâu ≤0,3mm và chiều dài ≤ 0,5mm Tối đa 2 / chiếc; không có V-chip | Mắt khỏa thân hoặc hệ thống kiểm tra tấm wafer |
Các vết nứt / lỗ nhỏ | Không cho phép | hệ thống kiểm tra wafer |
Chú phổ biến: p loại p tấm mỏng năng lượng mặt trời đơn tinh thể m6, Trung Quốc, nhà cung cấp, nhà sản xuất, nhà máy sản xuất tại Trung Quốc
